Способ количественного эмиссионного спектрального анализа металла

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з G 01 N 21/67

ГОСУДАРСТВЕ Hblй КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4746460/25 (22) 06.10.89 (46) 15.10.91. Бюл, М 38 (71) Институт черной металлургии (72) Э.Н.Северин (53) 543.48 (088,8) (56) Методы спектрального анализа металлов и сплавов/Под ред. Ю.M.Áóðàâëåâà, К.;

Техника, 1988, с. 215, Исаев Н.Г. Усовершенствование спектрального метода определения водорода в титановых сплавах. — Заводская лаборатория, 1960, т. 26, М 5 с. 577.

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

Целью изобретения является повышение точности и воспроизводимости результатов.

Если по истечении времени обыскривания уменьшить аналитический промежуток с Н до h параллельным смещением электрода или пробы вдоль оси электрода, то при этом новое пятно обыскривания с избытком перекроется старым, причем подавляющая часть случайных выбросов за пределы нового пятна будет локализована внутри границ старого пятна, т,е. поверхности пробы, уже обработанной разрядом до стационарного состояния. В результате случайные выбросы разряда за пределы нового пятна окажутся уже неспособными вызывать случайные изменения аналитического сигнала, так что немонотонный характер кривой обыскрива„„5U, 1684635 А1 (54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

М ЕТАЛЛА (57) Изобретение относится к спектральному анализу и может быть применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов. Цель изобретения — повышение воспроизводимости и точности результатов анализа. При переходе от обыскривания к экспозиции аналитический промежуток уменьшают на 0,4 — 0,6 первоначальной величины. ния в области экспозиции значительно уменьшится.

Способ осуществляют следующим образом.

Устанавливают по шаблону или оптическому иэображению аналитический промежуток равным Н. Включают электрический разряд на время обыскривания То. Выключают разряд, Устанавливают промежуток h параллельным смещением пробы вдоль оси вспомогательного электрода. Включают электрический разряд на время экспозиции, установленное из требований конкретно решаемой аналитической задачи.

Пример. Способ прошел лабораторные испытания на спектрографической установке, состоящей иэ спектрографа кварцевого ИСП-30 и генератора конденсированной искры ИГ-3. при определении массовой доли кремния и марганца в чугуне. Емкость генератора 0,01 мкФ, индуктивность 0,01 мГн и сила тока 4 А обеспечивали устойчивый разряд с тремя

1684635

Составитель О.Бадтиева

Редактор А.Лежнинв Техред М.Моргентал Корректор А.Осауленко

Заказ 3500 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва Ж-35, Раушская нвб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 цугами за полупериод, Время обыскривания 30 с при Н - 7 мм, время экспозиции 10 с при h-4 мм.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет повысить точность и воспроизводимость результатов анализа.

Формула изобретения

Способ количественного эмиссионного спектрального анализа металла, включаю ций заточку нв плоскость поверхности анализируемой пробы металла, контроль величины аналитического промежутка между торцом вспомогательного электрода и плоскостью анализируемой пробы, обыскриввние пробы и регистрацию ее эмиссион5 ного спектра, по которому проводят анализ, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и воспроизводимости результатов анализа, при переходе от обыскриввния к регистрации спектра аналити10 ческий промежуток уменьшают на 0,4 — 0,6 первоначальной величины.