Способ измерения дрейфа обратного тока р—п-переходов

 

О П И С А Н И E I I74277

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое nl авт. свидетельства,"0

21g7 11о0

Заявлено 14.11.1964 (№ 881982/26-25) с присоединением заявки М (lIIK Н Oll

УД!, 821.382: 33.083.72! (088.8) Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР

Приоритет

Зпубликовано 27.Ч111.1965. Бюллетень М 17

Дата опубликования описания 29.Х.1955

Авторы изобретения

1О. С. Карп, Л. А. Аввакумова и E. Я. Финкельштейн

Заявитель Институт электроники и вычислительной техники АН Латвийской ССР

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДРЕЙФА ОБРАТНОГО ТОКА р — и- П ЕР ЕХОДО В

Подписная группа М 97

Изобретение относится,к области измерения параметров полупроводниковых приборов. Не.которые параметры, в частности 1,, 1<, 100, а, испытывают дрейф во времени, и поэтому необходимо либо выжидать установление стационарного значения параметра (10 — 50 2кин), либо измерять его для всех приборов с некоторой задержкой после вк3почения (20 сек—

4 мин), определяемого техническим указанием, что замедляет массовую проверку р — п-переходов.

В настоящее время дрейф обра1тного тока измеряют в импульсном режиме.

Предложен способ ускоренного систематического, не связанного с температурой измерения дрейфа обратного тока германиевых

p — n-переходов с помощью импульсов, подаваемых:на переход непосредственно перед измерением обратного тока.

От известного он отличается подачей комбинаций отрицательного .и положительного импульсов на р — n-переход.

Предлагаемый способ позволяет:

1) Измерить полностью установившееся значение обратного тока, не выжидая времени установления.

2) Измерить значение обратного тока через промежуток времени заданной задержки, не выжидая этого времени.

3) Установить по"."íûé размах дрейфа, проводя измерения в динамическом режиме.

При ускоренном измерении обратного тока перехода необходимо вначале подать отрицательный импульс, устанавливающий некоторую:|ачальную концентрацию медленных состояний на пове1рхности, а затем — положительный импульс, насыщающий поверхность дырками. В этом случае при соответствующем

10 подборе величин импульсов можно попаст на любу|о точку кривой обратного тока перехода.

Для мощных и маломощных транзисторов при измерении полностью установившегося

15 значения обратного тока отрицательный импульс должен быть такой величины, чтобы переход выводился в предпробивную область, и длительностью 0,2 — 0,5 сек. Положительный импульс для маломощных транзисторов дол20 жен быть в пределах 0,05 — 0,2 8, а для мощных транзисторов — в пределах 1,5 — 2 в.

Предмет изобретения

Способ измерения дрейфа обратного токl

25 р — n-переходов, например, германиевых, не связаHíîãо с температурой, отличающийс.| тем, что, с целью ускоренного измерения нестабильности, на р — и-лереход подают поочеред1но отрицательный и положительный нM

30 пульсы.

Способ измерения дрейфа обратного тока р—п-переходов 

 

Похожие патенты:

Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые 13 режиме иробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р—«-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя.в иредложеином устройстве для иредотвращения выхода диодов из строя в процессе измерения последовательно с каждым из сопротивлений блока регулировки напряжения включен стабилитрон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и незавиеимо от вольтамперной характеристики мощность диода неизменна.схема устройства изображена на чертеже.последовательно с испытуемым диодом 1 включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. блок 2 содержит сопротивления 4, коммутируемые шаговым искателем 5. к каждому из сопротивлений подключено ио стабилитрону 6, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характер]!- стики диода с гиперболой.в ироцесее измерения блок 7 измерения величины пропзводной обратного тока контролирует отношение прпращенпя тока через дпод к приращению напряжения на нем, т. е. величину пропзводной. еели величина пропзводной меньше предельного значенпя, с блока 7 на шаговый пскатель подается управляющпй импульс, и щаговый искатель производит очередное изменение величины соиротивлений. если величииа иропзкодной больше или равиа за-, данному предельному значению, автоматически включается пз^iepитeльный прибор s, ио которому отсчитывается величина пробивного напряжения, и управляемый шаговым искателем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделяющуюся на дподе при пробивном напряженпи.предмет изобретен и яустройство для определения пробивного напряжения иолупроводнпковых л,иодов, содержащее подключенные к диоду блок стуиенчатой регулировки подаваемого на дпод напрял\е-25 нпя, снабженный набором коммутируемых сопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, отличающееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из етроя в процессе измерений, последовательно30 с каждым из сопротивлений блока стуиенчатой регулировки напряженпя включен стабилитрон.101520 // 172374

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах
Наверх