Патент ссср 278263

 

11 (п) 278263, ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 21.02.69 (21) 1305356/18-10 (51) М. Кл. G 01р 3/48 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 05.12.74. Бюллетень № 45

Дата опубликования описания 03.02.75

Государственный комитет

Совета Министров СССР оа делам изобретений и открытий (53) УДК 531.773. .082.74:621.317. .761.023 (088.8) (72) Автор изобретения

Б. М. Петров

Радиотехнический институт (71) Заявитель (54) РАДИОЛОКАЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СКОРОСТИ

ВРАЩЕНИЯ

Предмет изобретения

Изобретение относится к измерительной технике.

Известен радиолокационный способ измерения скорости вращения путем облучения контролируемого ооъекта и анализа отраженного излучения, в котором в отраженном излучении определяют интервал смещений любой частоты, обусловленный допплеровским сдвигом.

Полная ширина допплеровского смещения, обусловленного вращением, не может быть надежно измерена, поскольку амплитуды сигналов стремятся к нулю при приближении частот к интересующим крайним значениям.

Кроме того, непосредственно измеряемой величиной является линейная скорость точек контролируемого объекта, пропорциональная его радиусу.

Предложенный способ отличается тем, что с целью повышения точности в отраженном излучении определяют интервалы частоты между гармониками, обусловленными микронеровностями формы и неоднородностями материала объекта при облучении монохроматической волной микроволнового диапазона.

На чертеже показана схема устройства, реализующего продложенный способ.

Генератор непрерывных монохроматических колебаний 1 через антенну 2 облучает конт5 ролируемый объект 3. Отраженное излучение воспринимается приемной антенной 4, проходит детектор 5, усилитель низких частот б и анализатор гармоник низких частот 7, выделяющий контролируемую частоту. Самопишу10 щий частотомер 8 непрерывно регистрирует скорость вращения объекта.

Радиолокационный способ измерения скорости вращения путем облучения контролируемого объекта и анализа отраженного излучения, отлича ющий ся тем, что, с целью по20 вышения точности, в отраженном излучении определяют интервалы частоты между гармониками, обусловленными микронеровностями формы и неоднородностями материала объекта при облучении монохроматической волной

25 микроволнового диапазона.

278263

Составитель С. Ющенко

Редактор А. Корнеев Техред T. Миронова Корректор Т. Гревцова

Заказ 60/1 Изд. № 214 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская иаб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2