Устройство для автоматического измерения порога срабатывания полупроводниковых приборов сs-образнои вольтамп'

 

— 1

ЗОО844

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬРЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Заявлено 07. I I.1969 (№ 1304044/26-9) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 07 1 т/.1971. Бюллетень ¹ 13

Дата опубликования описания 22Х1.1971

МПК G OIr 31/26

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317.799:621.3..032 (088.8) Автор изобретения

В. А. Пуринь

Заявитель Институт электроники и вычислительной техники АН Латвийской ССР

УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОГА

СРАБАТЫВАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С

$-ОБРАЗНОЙ ВОЛ ЬТАМПЕР НОЙ ХАРАКТЕРИСТИКОЙ

R„„„= =О, dl

Изобретение от носится к измерительной технике и может быть использовано для измерения статических параметров полупроводни,кавых приборов с S-образной вольтамперной характеристикой.

Известны устройства аналогичного назначения, содержащие источник питания, интегратор и индикатор.

Недостатком известных устройств является малая точность измерений.

Цель изобретения — повышение точности измерения тока и .на пряжения включения исследуемого полупроводникового прибора, Для этого исследуемый .полу проводникоBbIH прибор включен B прямом направлен|ии в цепь обратной связи операционного усилителя, ко входу .которого через линейное сопротивление подключен выход интегратора, а выход операционного усилителя соединен с последовательно включенными диф ференциатором, ограничителем и самоблотхирующимоя реле, )причем цепь управления исследуемого полупроводникового прибора подключена к дополнительному незаземленному источнику тока.

На чертеже, приведена схема предложенного устройства, В исходном состоянии напряжение на выходах, интегратора 1, операционного усилителя 2, ди фференциатора 3 и ограничителя 4 равно нулю, ключ 5 разомкнут, контакт б самоблокирующегося реле 7 замкнут, контакт

В самоблокирующегося реле 7 разомкнут, тхонтакты кнопки 9 замкнуты.

При замыкании ключа 5 на выходе интегратора 1 появляется положительное, линейнорастущее напряжение. При этом напряжение на выходе операционного усилителя 2 равно на1иряжению на испытуемом полупроводниковом приборе 10, включенном в прямом направлении в его цепь обратной связи. Дифференциатор 8 дифференциирует выход ной сигнал операционного усилителя 2 по току. На|пряжение на выходе дифференциатора 3 имеет положительную, а на выходе ограничителя 4 — небольшую отрицательную величину. Когда дифференциальное сопротивление Яхкф равно нулю где U2 — напр яжение на выходе операционного усилителя 2, 1 — ток на выходе интегратора 1, то напряжение на выходе дифференциатора 8 тоже становится равным нулю, а затем меняет полярность. На пряжение на выходе ограничителя 4 скачком возрастает до определенного уровня, и срабатывает самоблокирующееся

ЗО реле 7, размыкая своим контактом б вход300844

Предмет изобретения

Составитель Н. Степанов

Техред T. П. Курилко

Редактор А. В. Корнеев

Корректор О. С. Зайцева

Заказ 165/659 Изд. № 507 Тираж 473 Подписно"

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открьпий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип Харьк. фит. пред, «Патент» ную цвпь и самоблокируясь при помощ и контакта инопки 9. Нап|ряжение переключения можно измерить на выходе операционного усилителя 2, а ток включения — на выходе интегратора 1, так как ток через испытуемый полупроводниковый прибор 10 пропорционален,напряжению на выходе интегратора 1 с коэффи1 циентом пропорциональности — . где R — со о противление входного резистора 11 опе рационного усилителя 2. Цепь управления исследуемого .полупроводникового при бора 10 подключена к дополнительному незаземленному источнику 12 тока, который использ уетс я в ка- !5 честве управляющего, когда управляющий сиг нал не равен нулю.

Устройство возвращается в исходное состояние размыканием ключа б, после чего на- 20 жатием .на кнопку 9 отключается самоблокирующееся реле 7, замыкая контакт б и размыкая контакт h.

Устройство для автоматического измерения порога срабатывания полупроводниковых приборов с S-образной вольтамперной характеристикой, содержащее источник питания, интегратор и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения тока и напряжения включения к выходу интегратора через лянейное сопротивление последовательно подсоединены операционный усилитель, в цепь обратной связи которого включен в прямом направлении исследуемый полупроводниковый прибор, дифференциатор, ограничитель и самоблокирующееся реле, причем цепь управления исследуемого полупроводникового прибора подключена к дополнительному незаземленному источнику тока.

Устройство для автоматического измерения порога срабатывания полупроводниковых приборов сs-образнои вольтамп Устройство для автоматического измерения порога срабатывания полупроводниковых приборов сs-образнои вольтамп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх