Образец для исследования свойств поверхностного слоя профильного паза

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик ()962786 (61) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 7. 02 ° 80 (21) 2880892/25-26

И11М. Ки. с присоединением заявки М—

G 01 и 1/28

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) ПриоритетОпубликовано 3009.82. Бюллетень М? 36

Дата опубликования описания 30.09. 82 (33}УДК 543 053 С088.8) (72) Авторы изобретения

А. Н. Овсеенко, Н. Н. Хованов и A. Р. Клюыин (71) Заявитель

Научно-производственное объединение по технологии машиностроения ЦНИИТИАШ" (54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТНОГО

СЛОЯ ПРОФИЛЬНОГО ПАЗА

Изобретение относится к технике исследования Физико-химических и механических характеристик поверхностного слоя профильного паза, в частнос- 5 ти к конструкции образца, служащего для определения этих свойств.

Известен образец для исследования качественных характеристик поверхностного слоя профильного паза, выполненный в виде состыкованных прямоугольных брусков, с подготовленными к исследованию (шлифованием, травлением) поверхностями стыка. Профильный паэ выполнен перпендикулярно поверхностям стыка или вдоль поверхностей стыка (1) Л

Образец после разъема позволяет исследова=ь как левую, так и правую сторону профильного паза, но исследования свойств поверхностного слоя профильного паза по периметру профиля требуют послойного снятия материала, что повышает стоимость исследования и трудоемкость подготовки образца.

Цель изобретения - снижение трудо-. емкости подготовки образца. 25

Указанная цель достигается тем, что в образце для исследования свойств поверхностного слоя профильного паза, включающем заготовку, выполненную иэ двух частей, соединенных подготовленньяи к исследованию поверхностями,. и с пересекающим их исследуемым профильным пазом паз расположен к плоск о кости стыка под углом 30-3

На фиг. 1 изображен образец, общий вид; на фиг. 2 — две половинки образца, в разъеме.

Образец состоит из двух частей

1 и 2, предназначенных для контроля левой и правой сторон исследуемого профиля, и состыкованных плоскостями Aq, D, Е„, F HA, 0, Eg Fg. предварительно подготовленными (травлением или ыпифованием) к исследованию. Исследуемый профильный паз располагают под углом от 30 мин до 3 град. относительно плоскости агыка с пересечением последней. Контроль поверхностного слоя на плоскостях А„, D

Е„и Р и A<, D<, E< и F> частей образца йоэволяет получить качественные данные поверхностного слоя как по всему, периметру профиля (контроль профиля в зоне участка Bc) так и по глубине залегания от профильного паза (контроль в зоне участка CD). Расположение.профильнаго паза к плоскости стыка под углом 30 -Зо объясняется тем, что выполнение паза с углом менее 30 мин нецелесообразно ввиду то962786

Формула изобретения iz

Pclc. f

Ру Fg Риг, g

Составитель С. Фатеева

Редактор С. Юско Техред,C.Ìèãóíîâà Корректор Ю. Макаренко

Заказ 7495/61 Тираж 887 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

ro что на тонких кромках угловых скосов образца в этом случае не обеспечиваются нормативные требования, преду смотре нные правилами и эмере ния параметров состояния поверхностного слоя. Увеличение угла расположения профильного паза более 3 град нецелесообразно иэ-за невозможности достаточно полно и точно исследовать параметры поверхностного слоя, так как протяженность по поверхности шлифа 10 резко сокра(ается, что также приводит к искажению результатов исследования.

Использование образца обеспечит возможность проведения на одном образце полного исследования качественных свойств поверхностного слоя на различных глубинах его залегания от обработанной поверхности и по всему периметру профильного паза; надежное сохранение полученного уровня качественных свойств за счет отсутствия добавочных операций послойного шлифования, полирования и травления.

Образец для исследования .свойств поверхностного слоя профильного паза, включающий заготовку, выполненную из двух частей, соединенных подготовленными к исследованию поверхностями, и,с пересекающим их исследуемым профильным пазом, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью снижения трудоемкости подготовки образца, исследуемый профильный паз расположен к о плоскости стыка под углом 30 — 3

Источники информации, принятые„во внимание при экспертизе

1. Хованов Н. Н. Исследование и разработка технологических решений по повышению точности электрохимической обработки профильных поверхностей вращающимся катодом. — Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук. Тула, 1978, с. 34-37.

Образец для исследования свойств поверхностного слоя профильного паза Образец для исследования свойств поверхностного слоя профильного паза 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицине, а именно к анатомии, топографической анатомии, патологической анатомии и может быть использовано для изучения лимфоидных узелков в тотальных анатомических препаратах макромикроскопическом поле видения в норме, в возрастном аспекте, в эксперименте и патологии

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к технике отбора проб сжатых газов и воздуха при контроле в них содержания примесей масла, влаги, окиси углерода, двуокиси углерода и других примесей преимущественно линейно-колористическим методом с использованием индикаторных трубок

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования
Изобретение относится к медицине, точнее к технике изготовления гистологических образцов различных тканей, и может быть использовано при дифференциальной диагностике патологических состояний организма

Изобретение относится к цитологии
Наверх