Способ контроля и отбраковки оптических поверхностей

 

Изобретение относится к испытательной технике и позволяет проводить контроль и отбраковку ситалловых элементов, прошедших гидролитическую обработку перед соединением их путем оптического контакта. Предварительно гидролитически обработанные поверхности ситалловых элементов обдувают нагретым водяным паром, конденсируют его на поверхности путем обеспечения разности температур между контролируемыми элементами и паром, наблюдают на поверхности элементов сформированные при конденсации на их поверхности водяного пара характерные спиральные и кольцевые фигуры и по наличию или отсутствию на их поверхностях этих фигур судят о деталях, прошедших гидролитическую обработку. с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕС(5УБЛИК (191 (51) (504 G 01 В 11 06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

I M П.(НТ СССР (21) 3732968/25-28 (22) 03. 02; 84 (46) 30.01. 89. Бкл. 1(4 (72) Л. А. Вдовенко, В.П.Маслов, 10.В.Галанин и Е.П.Бронштейн (53) 531.717 (088.8) (56) Справочник технолога — оптика.

Под ред. И.Я.Бубиса и др. Л.: Маши- ностроение, 1979, с. 129. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ И. ОТБРАКОВКИ

ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕР ХНОСТЕИ (5 7) Из обр ете ни е относит ся к и спытательной технике и позволяет проводить контроль и отбраковку ситалловых элементов, прошедших гидролиИзобретение относится к измерительной технике и может быть испбльзовано при контроле очистки оптических деталей из ситалла предназначенФ

5 ных для установки их на оптический контакт °

Цель изобретения — повышение надежности при контроле и отбраковке ситалловых элементов путем формирова- 5ð ния на оптических поверхностях, подвергшихся обработке, характерных спиральных и кольцеобразных фигур.

Способ осуществляют следующим образом. 55

Оптически обработанные поверхности оптических элементов, предназначенных для их установки на оптический контакт, обдувают нагретым насыщенным водяным паром при разтическую обработку перед соединением их путем оптического контакта.

Предварительно гидролитически обработанные поверхности ситапловых элементов обдувают нагретым водяным паром, конденсируют его на поверхности путем обеспечения разности температур между контролируемыми элементами и паром, наблюдают на поверхности элементов сформированные при конденсации на их поверхности водяного пара характерные спиральные и кольцевые фигуры и по наличию или отсутствию на их поверхностях этих фигур судят о деталях, прошедших гидролитическую обработку. ности температур деталей и паре 6 t=

=15-45 С, в результате чего для ситапловых элементов, предварительно прошедших гидролитическую обработку в паровом стерилизаторе, формируются характерные спиральные и кольцеобразные фигуры, а для элементов, не прошедших гидролитическую обработку, такие фигуры не наблюдаются. По наличию или отсутствию этих характерных фигур на поверхности ситалловых элементов и проводят контроль и их отбраковку.

Формул а изобретения

Способ контроля и отбраковки оптических поверхностей заключающийся в том, что визуально наблюдают контз 1455233 а р шируемую поверхность, о т л и ч а — дением оптические поверхности обдув шийся тем, что, с целью повы- вают нагретым насышенным водяным шения надежности при контроле и паром, создают разность температур отбраковке ситалловых элементов пу- между водяным паром и контролируемой тем формирования на оптических по5 поверхностью порядка 15-45, а конт0 . верхностях, подвергшихся обработке, роль и отбраковку ситалловых злеменз1арактерных спиральных и кольцеобраз- тов производят по отсутствию на их х фигур, перед визуальным наблю- поверхностях характерных фигур.

Сост авитель Н. Солоухин

Редактор A.ÐåâèH Техред М. Ходанич Корректор С,Черни

Заказ 7446/49 Тираж 683 Подписное

ИНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ контроля и отбраковки оптических поверхностей Способ контроля и отбраковки оптических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении толщин движущихся пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения толщин пленок

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контрол я однородности толщины диэлектрических пленок в процессе их нанесения на прозрачные подложки

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщин пленок, наносимых в процессе напыления через сетки

Изобретение относится к измерите.чьной технике и предназначено для контроля толщин интерференционно-ноляризаиионных фильтров

Изобретение относится к измерительной технике и 1иожет быть использовано для определения разнотолщинности фоторезистивных пленок, нанесенных на отражающие полупроводниковые подложки

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для контроля толщин оптических покрытий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах контроля качества покрытий

Изобретение относится к технологии нанесения и контроля оптических покрытий на детали

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения толщин эпоксидных покрытий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх