Способ подготовки поверхности подложки перед нанесением фоторезиста

 

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано в литографических операциях при изготовлении полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение выхода годных подложек - достигается за счет снижения дефектности слоя фоторезиста и исключения их реставрации. Поверхность подложки перед нанесением фоторезиста обрабатывают 0,01 - 1%-ным водным раствором катионоактивного ПАВ - катамином АБ - алкилбензилдиметиламмонийхлоридом общей формулы [CnH2n+1N+(CH3)2CH2C6H5]Cl-, где n = 10 - 18. Введение данной обработки позволяет повысить адгезию фоторезиста к подложке за счет образования промежуточного монослоя катамина АБ, удаляемого при последующем проявлении.

Изобретение относится к мироэлектронике и может быть использовано на литографических операциях при изготовлении полупроводниковых приборов и интегральных микросхем повышенной степени интеграции. Целью изобретения является повышение выхода годных подложек за счет снижения дефектности слоя фоторезиста и исключения их реставрации. Подложки после гидромойки обрабатывают предложенным гидрофобизирующим раствором ПАВ, в качестве которого используют водный раствор катамина АБ алкилбензилдиметиламмонийхлорида. Кроме того, что ПАВ обеспечивает повышение адгезии фоторезиста, оно препятствует проникновению фоторезиста непосредственно к поверхности кремния в виде образующегося промежуточного монослоя катамина АБ, предотвращает их сцепление (это выявленное новое свойство). Поэтому при появлении фоторезиста происходит полное удаление его, снижается дефектность, исключено подтравление, а следовательно, уход размеров, что снижает процент возврата изделий на реставрацию. При уменьшении концентрации раствора до ниже 0,01 мас. снижается адгезия фоторезиста к подложке, что приводит к недопустимому уходу размеров и повышению дефектности. При концентрации раствора выше 1 мас. наблюдается недопроявление фоторезиста и снижение его светочувствительности. П р и м е р. Невысушенные кремниевые пластины (диаметр пластин 60, 76, 100 мм) после операции гидромойки подвергают обработке в растворе поверхностно-активного вещества катамина АБ концентрированном водном растворе алкилбензилдиметиламмонийхлорида. Рабочий раствор катамина АБ различных концентраций готовили следующим образом: необходимый объем катамина АБ растворяли в небольшом количестве деионизованной воды марки А, затем доводили до необходимого объема (1 л) и перемешивали. Обработку пластин осуществляли методом полива через форсунку на центрифуге. Давление струи жидкости (катамина АБ) 0,5 кг/см2, время подачи 8 с при скорости вращения центрифуги 500 об/мин. Установлено, что независимо от вида поверхности, будь то SiO2, выращенный термически, пиро-SiO или ФСС, обработка в катамине АБ приводит к увеличению угла смачивания, что в свою очередь при последующей фотолитографической обработке обеспечивает высокое качество за счет хорошей адгезии фоторезиста. Затем пластины сушили на той же центрифуге, но скорость вращения при сушке составляла 4500 об/мин, а время сушки 15 с. После сушки пластины передавались на операцию нанесения фоторезиста. Если пластины и передавались на операцию нанесения фоторезиста после хранения, то ухудшение адгезии не наблюдалось. Сравнительные данные по проценту выхода для трех партий БИС и СБИС приведены в табл.1. В табл.2 приведены данные по дефектности железоокисных фотошаблонов, в процессе изготовления которых проводили обработку в соответствии с предлагаемым способом. Как видно из таблиц, обработка поверхности подложек перед нанесением позволяет снизить дефектность, процент подложек, возвращаемых на реставрацию, и повысить выход годных.

Формула изобретения

СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖКИ ПЕРЕД НАНЕСЕНИЕМ ФОТОРЕЗИСТА, включающий очистку подложки и обработку ее органическим гидрофобизирующим веществом, отличающийся тем, что, с целью повышения процента выхода годных подложек за счет снижения дефектности наносимого слоя, в качестве гидрофобизирующего вещества используют 0,01 1%-ный (по массе) водный раствор катионоактивного ПАВ катамина АБ алкилбензилдиметиламмоний хлорида общей формулы [ Cn H2n+1N+ (CH3)2 CH2C6 H5]Cl-, где n 10 18.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроэлектронике

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых иитегральньпс схем, микросборок, устройств на поверхностных акустических волнах и т.п

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано на литографических операциях при изготовлении шаблонов для полупроводниковы

Изобретение относится к области микроэлектроники

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано на фотолитографических операциях

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операциях при изготовлении фотошаблонов Цель изобретения - увеличение тиражеаойкости фотошаблона На аеклянную подложку наносят слой органического материала - полиглицидилметакрилата с этилакрилатом толщиной от 1 до 4 мкм и облучают его ультрафиолетовым облучением в вакууме не ниже 1,3 Па Затем обрабатывают подложку в ацетоне в течение 3 мин сушат при температуре 80°С в течение 30 мин и напыляют пленку А1 толщиной 80-120 мкм

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано при литографических операциях Цель изобретения - повышение тиражеетойкости фотошаблона На стеклянную подложку наносят слой полиимида, а затем слой As Se толщиной 100 - 300 нм состава X 1-X 0.2 х 0.5 и слой Ag толщиной 15 - 20 нм

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при изготовлении дискретных полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операциях при изготовлении полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операциях при изготовлении полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано в литографических процессах при изготовлении полупроводниковых приборов, интегральных схем и печатных плат

Изобретение относится к устройствам нанесения покрытий посредством центрифугирования и может быть использовано, в частности, для создания светочувствительного слоя на полупроводниковых пластинах и фотошаблонах

Изобретение относится к полупроводниковому производству, в частности к процессам фотолитографии при нанесении фоторезиста на пластины, а также может использоваться при получении других полимерных покрытий центрифугированием

Изобретение относится к чувствительным к излучению композициям с изменяющейся диэлектрической проницаемостью, обеспечивающим модель диэлектрической проницаемости, используемой в качестве изоляционных материалов или конденсатора для схемных плат
Изобретение относится к технологии тонкопленочных приборов
Изобретение относится к полупроводниковой технологии и может быть использовано при создании современных полупроводниковых приборов и структур для микро- и наноэлектроники, в частности, при разработке наноразмерных приборов на основе кремния или структур Si/SiGe/Si с целью обеспечения проводимости тонких (субмикронных) полупроводниковых слоев
Наверх