Экранный узел стереоцветного кинескопа

Авторы патента:

H01D29/10 - Основные элементы электрического оборудования

Союз Советских

Социалистиыеских

Республик (1 1) l 506082 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 02.01,73 (21) 1865452/26-25 с присоединением заявки ¹(23) Приоритет (43) Опубликовано 05.03,76Вюллетень № 9 (45) Дата опубликования описания 17.09.76 (51) M. Кл. H 013 29/10

Госудврственный комитет

Совете Министров СССР оо делом изооретений и открытий (53) УДК 621.385; .832 (088.8) Ю. А, Наволоцкий и В. С, Шумляев (72) Авторы изобретения! (71) Заявитель Ленинградский электротехнический институт связи:! им. проф. М. А. Бонч-Бруевича (54) ЭКРАННЫЙ УЗЕЛ СТЕРЕОБВЕТНОГО КИНЕСКОПА

Изобретение относится к стереоцветным. ,кинескопам, в частности, к экранным узИзвестны кинескопы со стереоцветным б изображением, сепарация в которых осушеств яется с помощью поляроидного растра расположенного внутри колбы. Однако из-за, нарушения свойств поляроида в вакууме данное устройство не реализовано. 1D

Целью изобретения является сепарация стереоцветного изображения, Эта цель достигается тем; что на внеш- 15 ней стороне переднего стекла цветного штрихового кинескопа (например, хроматрона) размещается поляроидный и совмещенный с ним оптический растры, геометрические

1 размеры которых являются копией структу- 20

;ры штриховвго. экрана, образованного люми-! нофорными полосками.

На чертеже показано расположенйе растра на экране кинескопа (вид сверху) и эоньур

2 .стереовидения при наблюдении цветного

1объемного иэображения через увеличительную линзу, Экран состоит из люминофорных поло сок l, стекла 2, поляроидного 3 и линзового 4, растров . (полоски поляроидного растра, обладающие различным направлением поляризации, имеют разную штриховку). Перед экраном расположена линза 5.

В предлагаемом BICpEIHHDM узле элемен;ты левого и правого изображений цветной ,стереопары чередуются по строке, а каж1

jnoe иэображение рассматривается зрителем ( через поляроицы очков и поляроидные по лоски : растра,имеющие одинаковое направле», ние поляри,зации. На чертеже штриховкой показаны зоны стереовидения, находясь в которых, зритель, снабженный поляроид ными очками„одним глазом видит элементу только одного изображения стереопары, а другим вЂ” элементы другого изображепия,На основе описанной конструкции экрай

» I

1ного узла может быть. построен рял дру506082 гих моделей. Например, используя свойство бинокулярного смешения цветов, одно изображение стереопары можно передавать в одном цвете (взеленом ), a другое - в двух цветах (красном и синем) или пост- 5 роить многоракурсный черно-белый кинескоп с чередованием по строке элементов правого и левого изображений параллаксстереограммы. В этих случаях для сепа- 10 рации изображений целесообразно применять оптические растры.

Формула изобретения

Экранный узел стереоцветного кинескопа, содержащий штриховой люминофорный экран, поляроидный и оптический растры, расположенные на внешней стороне фронтального стекла, и увеличивающую линзу, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения зоны стереовидеиия, указанные растрывыполнены.из элементов, равных по ширине люминофорным полоскам штрихового экрана, причем полоски совмещены с элементами растаю.

506082

Составитель 1 Ду р(анин

Ред ктоР Т.ОРловскаЯ ТехРеа 3.Тараненко КоРРектоР Д Дзесона

Заказ (Изд. М 30С

Тираж 963 . Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Филиал ППП "Патент",г. Ужгород,ул. Проектная,4

Установка для химической обработки круглых деталей со сложным геометрическим профилем // 501435

Способ получения эпитаксиальных слоев, например, полупроводников твердых растворов из газовой фазы // 496873

Устройство для непрерывного удаления фоторезиста с подложек с использованием озон-кислородной смеси // 494799

Способ изготовления широкополосного ультразвукового преобразователя // 492018

Полуавтомат для разбраковки кристаллов // 492014

Индукционное устройство для контроля сверхпроводимости тонкой пленки // 490224

Устройство для контроля сверхпроводимости // 490223

Расширитель динамического диапазона радиосигнала // 490221

Зондовая установка для контроля полупроводниковых структур // 489165

Преобразовательный агрегат // 512513

Кассета для нанесения пленки на плоские пластины // 514378

Способ резки полупроводниковых пластин // 519793

Пьезокерамический материал // 524269

Фоточувствительный слой // 534808

Оптическая система устройства проекционной фотолитографии // 564830

Способ измерения пороговой разности температур ик мфпу // 2643695

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и касается способа измерения пороговой разности температур инфракрасного матричного фотоприемного устройства. Измерения осуществляются с использованием снабженного оптическим модулятором абсолютно черного тела (АЧТ) с площадью излучающей площадки, не превышающей размеров матрицы фоточувствительных элементов. При осуществлении способа устанавливают заданную температуру АЧТ (Tсигн), измеряют интегральные шумы Vш_ij всех ФЧЭ, измеряют спектр пропускания холодного светофильтра МФПУ, определяют его коротковолновую и длинноволновую границы пропускания λк и λд, измеряют сигналы всех ФЧЭ Vсигн_ij и рассчитывают величину пороговой разности температур по формуле где с=2,998⋅1010 см⋅с-1 - скорость света; kB=1,381⋅10-23 Вт⋅с⋅К-1 - постоянная Больцмана; h=6,626⋅10-34 Вт⋅с2 - постоянная Планка; N(Tсигн; λк; λд), квантов⋅с-1⋅см-2 - интеграл от функции Планка, определяющий квантовую облученность в телесном угле 2⋅π в спектральном интервале [λк; λд]; Z(Tсигн; λк; λд) - интеграл от производной функции Планка по температуре. Технический результат заключается в повышении точности и упрощении методики измерения. 1 ил.

Способ определения направления дислокаций в монокристаллах с помощью асм // 2645041

Изобретение относится к приборам и методам экспериментальной физики и предназначено для исследования дефектной структуры кристаллов. Способ имеет преимущество по сравнению с методом рентгенодифракционной топографии: нет необходимости разрушать исследуемый образец, можно осуществлять экспрессный контроль больших партий монокристаллов. Способ впервые обеспечивает возможность экспресс-определения направления дислокаций в монокристаллах и эпитаксиальных пленках. Способ определения дислокаций в кристаллах включает селективное химическое травление кристалла до получения ямок травления размером 0,4-2 мкм и наблюдение ямок травления с помощью атомно-силового микроскопа. Измеряют угол наклона граней ямок травления, по полученным данным строят геометрические модели ямок и по наклону пирамид ямок травления рассчитывают направления дислокаций.