Способ исследования свойств покрытия и основного материала
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования свойств покрытия и основного материала. С целью повышения информативности исследования за счет одновременного наблюдения сечения покрытия и основного материала используют образец 1 основного материала, поперечное или продольное сечение которого имеет переменную толщину. После нанесения слоя покрытия 4 профилируют сечение образца снятием части слоя покрытия и основного материала до образования среза, содержащего покрытие и основной материал. При испытании образца осуществляют наблюдение структуры этих материалов. Это позволяет оценить свойства и покрытия, и основного материала, установить зависимость свойств обоих, оценить качество технологии нанесенного покрытия. 15 ил.
Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов и может быть использовано для исследования свойств покрытия и основного материала. Целью изобретения является повышение информативности исследования за счет одновременного испытания и наблюдения структур материала покрытия и основного материала в любом профиле контактной поверхности в образце. На фиг. 1 изображено поперечное сечение образца с продольным углублением; на фиг. 2 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 3 то же, после профилирования; на фиг. 4 образец переменного поперечного сечения с продольным выступом; на фиг. 5 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 6 то же, после профилирования; на фиг. 7 основа образца с поперечным углублением; на фиг. 8 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 9 то же, после профилирования; на фиг. 10 образец с поперечным выступом; на фиг. 11 то же, с нанесенным покрытием; на фиг. 12 после профилирования; на фиг. 13 образец с поперечным сечением в форме прямоугольной трапеции; на фиг. 14 то же, с нанесенным покрытием; на фиг.15 то же, после профилирования. Способ осуществляют следующим образом. Используют образец 1 основного материала с переменным поперечным 2 или продольным 3 профилем в сечении, на который наносят покрытие 4. В качестве промежуточной подложки между основным материалом и покрытием может использоваться подслой для нанесения покрытия. Подслой (подложка) не показан. Затем изменяют профиль сечения с нанесенным покрытием снятием, например шлифованием части слоя покрытия и основного материала до образования среза, содержащего прямое и косое сечения 5 и 6 и основной материал 1. Выполняют микрошлиф среза. Таким образом, профилированием образца достигают повышения информативности о структурах материала покрытия и основного материала. Образец с покрытием испытывают и наблюдают на срезе структуры материала покрытия и основного материала и определяют их свойства и качество. Наблюдение среза возможно с кино- или фотофиксированием или с видеомагнитофонной записью качества структур покрытия и основного материала.
Формула изобретения
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СВОЙСТВ ПОКРЫТИЯ И ОСНОВНОГО МАТЕРИАЛА, по которому на образец основного материала наносят покрытие или подслой и покрытие, затем испытывают образец с покрытием и наблюдают структуры материалов образца, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности исследования за счет одновременного наблюдения в сечении покрытия и основного материала, используют образец основного материала переменной толщины с нанесенным покрытием, изменяют профиль сечения образца снятием части покрытия и основного материала до образования среза, содержащего как покрытие, так и основной материал, выполняют микрошлиф среза и на нем осуществляют наблюдения структур материалов образца.РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13, Рисунок 14, Рисунок 15
