Устройство для измерения динамических параметров микросхем

 

) )43243!

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Со)оа Советскик

Социалистических

Ресиублии (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 24.07.72 (21) 1813075/26-9 (51) М. Кл. 60lr 31/28

G 061 15/46 с присоединением заявки— (32) Приоритет—

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 621.317.799:

:621.3.049.75 (088.8) Опубликовано 15.06.74. Бюллетень ¹ 22

Дата опубликования описания 22.07.75 (72) Автор изобретения

Е. А. Васильев (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ

М 0) O) 1зис з 1зис(1) 1"ис

10 10 10 зис() — зис . = ис

Изобретение относится к области радиопзмерительных устройств.

Известны устройства для измерения динамических параметров микросхем, которые состоят из ряда микросхем, образующих кольцевой генератор, испытываемой микросхемы ИС и двух ключей.

С целью обеспечения возможности измерения времени переключения в предлагаемое устройство введен дискриминатор напряжения, выход которого соединен с входом второго ключа, к одному из входов дискриминатора подключен выход испытуемой схемы, а к другому входу — регулируемый источник опорного напряжения.

На фиг. 1 приведена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — диаграммы напряжений на входе и выходе испытываемой схемы.

Устройство состоит из схемы совпадения

1, схем, образующих кольцевой генератор 2, схемы 8, возбуждающей испытываемую схему, испытываемой схемы 4, двух ключей 5 и б и дискриминатора напряжения 7. Схемы 1, 2, 8 и 4 соединены госледовательно. Ключ 5 включен между выходом схемы 8 и первым входом схемы 1. Один вход дискриминатора 7 подключен к выходу испытываемой схемы 4, а другой — к источнику изменяемого опорного напряжения Up«. Кл)оч б включен между выходом дискриминатора 7 и вторым входом схемы 1.

Дискриминатор 7 переключается в момент достижения сигналом на его входе уровня заданного опорного напряжения, полярность выходных импульсов дискриминатора 7 (для рассматриваемого случая неинвертирующсй

ИС) совпадает с полярностью входных импульсов. Устройство вырабатывает импульсы, период повторения которых зависит от положения ключей 5 и б. При подаче на вход дискриминатора опорного напряжения (1,„= Up

P1 ) 10 получают значения /зи ) ) и /з U), а при по15 даче U,„=Сз — - íÿ÷åíèÿ l U u 1з U

"ис - ис

01 10 (см. фиг. 2), где /зп и /з))с — Dp<. i) 3a, eÐ>)<ки испытываемой схемы при переключении из состояния «0» в состояние «1» и из «1» в «0»

20 соответственно. Но, как видно из фиг. 2, разность времен задержек, измеренных ио отношению к одному и тому же уровню на входном импульсе, дает время переключения схемы, т. е.

25 где /„и — время ", переключения испытываеЗО мой схемы, определяемое из равенств

432431

01 лис Тз /2 T3U11 !

О

/лис = Т261 — ТзU1 — Т2U2+ Т2U2, Предмет изобретения

Д

1 Z

Щс г /

9h;x 1

Составитель А. Рассмотров

Текред Т. Курилко

Редактор Т. Морозова

Корректор В, Гутман

Заказ 259/748 Изд. № 1713 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент». где TU, и TU2 — период повторения кольца при подаче на вход дискриминатора 7 У,о =

U1 и U()„=Г/2 соответственно, причем Т, соответствует замыканию ключей " «б, а Т2 — замыкани1о ключа б.

Таким образом, введение дискриминатора, опорное напряжение на выходе которого может изменяться, позволяет проводить измерение/, и/„

О»0

Измерение задержек /з„и /зис в данГ1 10 ном решении проводится так же, как и в известном устройстве.

Кроме того, при использовании дискриминатора, полярность выходных импульсов которого противоположна полярности входных импульсов, можно проводить измерение параметров инвертирующих схем.

Устройство для измерения динамических параметров микросхем на основе кольцевого генератора, содержащее схему совпадения, к выходу которой 11oäêëþ÷åíà цепь из госледовательно соединенных микросхем, причем выход последней микросхемы соед:1нен с испытываемой микросхемой и через ключ — к одному из входов схемы совпадения, к другому входу которой подключен выход второго кспоча, отличающееся тем, что, с целью ооеспечения возможности измерения времени переключения, в него введен дискриминатор напряжения, выход которого соединен с входом второго кл1оча, к одному пз входов дискриминатора подключен выход испытуемой схемы, а ко второму входу — регулируемый источник опорного напряжения.

Устройство для измерения динамических параметров микросхем Устройство для измерения динамических параметров микросхем 

 

Похожие патенты:

Авторы // 392504

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью
Наверх