Устройство для контроля интегральных микросхем

 

ОП ИСАНИЕ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 530288

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное и авт. свил-ву (22) Заявлено27,08.74 (21) 057210/21 с присоединением заявки № (23) Приоритет— (43) Опублнковано30.09.76.Бюллетень №36 (45) Дата опубликования описания 25.11.76 (51) M. Кл.

6 01 R 31/28//

5 06 7 15/46

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР оо долам изобретений и открытий (5З) УЙК 681.327. .17 (088.8) (72) Авторы изобретения

В, П. Никитушкин и Н. М. Степанова (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ

МИКРОСХЕМ

721.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дляконтроля работоспособности электронных схем.

Известны устройства контроля интегральных микросхем, содержашие генератор входных импульсов, схему сравнения, а также блок опорного напряжения, вход которогоподключен к выходу генератора входных импульсов, а выход к входу схемы сравнения, регистрирующий прибор, функциональный импульс-1 р ный генератор, схему задержки и схему совпадения (11.

Однаж эти устройства обеспечиваютконтроль только цифровых интегральных схем и требуют расчета величины эталонного напри- f5 жения для каждого типа контролируемых схем.

Известно также устройство для автоматического нахождения неисправностей в схемах, содержашее генератор входных импульсов, проверяемую и эталонную схемы, импульсные и потенциальные многоканальные схемы несовпадения, ключи, счетчик импульсов,элементы "ИЛИ", дешифратор и блок регистраТакое устройство имеет ограниченные функциональные возможности, так как оно не позволяет контролировать динамические пара метры микросхем.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей устройства.

Это достигается тем, что в предлагаемое устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее генератор входных импульсов, схему сравнения, блок регистрации и эталонную схему, входные клеммы которой подключены к выходу генератора входных импульсов, а выходные зажимы к вычитающему входу схемы сравнения, введен интегрирующий усилитель, запускающий вход которого соединен с выходом генератора входных импульсов. Вход остановки процесса интегрирования подключен к выходу схемы сравнения, а выход соединен с измерительным входом блока регистрации, при этом вход индикации полярности блока регистрации подключен к выходу схемы сравнения.

На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства.

53

Устройство для контроля интегральных микросхем содержит генератор 1 входных импульсов, выход которого соединен с входными зажимами проверяемой интегральной микросхемы 2, с входными зажимами эталонной схемы 3, а также с запускающим входом интегрирующего усилителя 4.

Выходные клеммы проверяемой интегральной схемы 2 соединены с входом схемы сравнения 5. Вычитающий вход схемы сравнения подключен к выходным зажимам эта— лонной схемы 3. Выход схемы сравнения 5 соединен с входом остановки процесса интегрирования усилителя 4 и входом индикации полярности блока 6 регистрации. Выход интегрирующего усилителя 4 подключен к измерительному входу блока 6 регистрации.

Устройство работает следующим образом.

Импульсы с генератора 1 поступают одновременно на входные зажимы проверяемой интегральной микросхемы 2, эталонной схемы 3 и на запускающий вход интегрирующего усилителя 4, который начинает вырабатывать линейно возрастающее напряжение, достигающее к концу цикла регистрации опредев ленной величины, которая регистрируется блоком 6.

Если в течение цикла регистрации разность выходных параметров микросхемы 2 и эталонной схемы 3 превышает величину на выходе схемы 5 сравнения, появляется сигнал, который прекращает процесс интегоированпя. Блок 6 регистрации в этом случае отме.ает уровень напряжения. при котором прекратился процесс интегрирования. Знак отклонения параметров микросхемы 2 отэталонной схемы 3 фиксируется блоком 6 регистрации путем подачи на вход индикации полярности сигнала с выхода схемы 5 срави е н и rl

Для испытания интегральных схем, на0288 строенных на основе элементов с различными типами проводимостей, могут использоваться двуполяоные импульсы генератора входных импульсов. Испытуемые микросхемы могут испытываться и без подключения питающих напряжений.

По величине показаний блока 6 регистрации и знаку отклонения возможна разбраковка испытуемых микросхем по группам, при этом происходит контроль как статических, так и динамических параметров испытуемых интегральных микросхем.

Формула изобретения

Устройство для контроля интегральных микросхем, содержащее генератор входных импульсов, схему сравнения, блок регистрации и эталонную схему, входные зажимы которой подключены к выходу генератора входных импульсов, а выходные зажимы к вычитающему входу схемы сравнения, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей устройства, в него введен интегрирующий усилитель, запускающий вход которого соединен с выходом генератора входных импульсов, вход остановки процесса интегрирования подЭО ключен к выходу схемы сравнения, а выход соединен с измерительным входом блока регистрации, при этом вход индикации полярности блока регистрации подключен к выходу схемы сравнения.

Источники информации принятые вэ внимание при экспертизе:

1. Патент США Ъ 3602809, кл. 324-57, 1 4.08. 68.

@> 2. Авт.св. СССР% 238236, 5 06 F 15/46, 02. 1 2. 67.

530288

Составитель А. Рассмотров

Редактор Т. Рыбалова Техред A. демьянова Корректор Н. Вугакова

Заказ 5243/643 Тираж 1029 Подписное

БНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,

Устройство для контроля интегральных микросхем Устройство для контроля интегральных микросхем Устройство для контроля интегральных микросхем 

 

Похожие патенты:

Авторы // 392504

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью
Наверх