Классификатор линейных интегральных схем

 

1

О П И С А Н И Е (и) 528520

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.09.74 (21) 2064092/21 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.09.76. Бюллетень № 34

Дата опубликования описания 06.10.76 (51) М. Кл. - б 01k 31/28

Госудерстееикык комитет

Совете Министров СССР по делам изобретекий и открытий (53) УДК 621.382.3 (088.8) (72) Авторы изобретения В. В. Терпигорьев, П. П. Тарвид, В, И. Синчук и В. П. Карнаухов (71) Заявитель (54) КЛАССИФИКАТОР ЛИНЕИНЫХ

И НТЕГРАЛЬНь1Х СХЕМ

Изобретение относится к контрольно-измерительнои технике, в частности, к технике программируемых тестовых испытании линеиных интегральных схем и может быть использовано для автоматического измерения, контроля и классификации интетральных схем, например, операционных усилителеи, на финишном и входном контроле, а также для разбраковки структур на пластине в процессе их изготовления при совместной раооте классификатора с автоматическими зондовыми манипуляторами.

Известен классификатор интегральных схем, содержащий программируемый источник питания, блок подключения, цифровой вольтметр, цифровую схему сравнения, программатор тестовых условий и дешифратор на выходе, регистр сдвига, устройство управления, блоки классификации и индикации (11, Однако, такие устройства имеют ограниченное применение из-за жесткого задания команд управления и способа классификации.

Целью изооретения является расширение функциональных возможностей устройства.

Это достигается тем, что в классификатор линейных интегральных схем, содержащий устройство управления, регистр сдвига, соединенный с .программатором тестовых условий, соответствующие шины которого соединены с цифровой схемой сравнения и через дешифраторы подсоединены к блоку подключения и программируемому источнику питания, дешифратор, связанныи с олоком классификации, к которому подключен индикатор и

5 цифровои вольтметр, введены программатор классификации, двухвходовые схемы совпадения и узел формирования сигнала «брак по тесту», при этом программатор классификации соединен с программатором тестовых ус1О ловий через двухвходовые схемы совпадения, одни из входов которых одновременно подсоединены к выходу узла формирования сигнала «брак по тесту», а входы последнего подключены к устройству управления, цифро15 вой схеме сравнения и шине «меньше» программатора тестовых условий, который посредством шин команд связан с устройством управления.

На чертеже показана структурная электри20 ческая схема предлагаемого классификатора.

Выходы регистра сдвига 1 соединены с горизонтальными шинами программатора 2 тестовых условий непосредственно и с шинами программатора 3 классификации через двух25 входовые схемы 4 совпадения. Вертикальные шины программаторов функционально разоиты на несколько групп: шины 5 команд подключены к устройству 6 управления, шины 7 коммутации, шины 8 питания и шины 9 класЗо сификации через соответствующие дешифра528520

3 торы 10, 11, 12 связаны соответс;асино с блоком 13 подключения, программируемым источником 14 питания и олоком lo «лассификации, ш ины 1о граничных Воздеисl вии подключены к первой группе входов циу овои схемы

l/ сравнения, а шина «меньше» Iu — к первому входу схемы 19 равнозначносьи, вгорои вход которой связан с выходом ци1рровои схемы 17 сравнения. Выход узла 20 iрормироBdния сигнала «брак IIо тесту», вк.llo÷ающего в себя последовательно соединенные логические схемы 19 равнозначности и совпадения

21, подключен к оощему входу схем 4 совпадения. выходы устроиства 6 управления связаны с управляющими входами цифрового вольтметра 22, co cxGMQH совпадения 2l блоком 5 классификации, выходы олока подключены к исследуемой интегральной схеме 23 и измерительному входу цифрового вольтметра 22, а выходы последнего соединены со второй группои входов цифровой схемы l J сравнения. 1(выходу блока Io классификации подключен индикатор 24.

Регистр сдвига 1 запускается тактовыми импульсами с устройства управления и осуществляет последовательныи опрос горизон1альных шин программаторов. йа вертикальных шинах матрицы с помощью сменных диодов в каждом тесте может быть записана следующая программа испытании: на шинах,б — требуемая задержка на время переходных процессов в измерителях параметров или на время регистрации результата измерения с. помо,щью внешних устройств, диапазон измерения цифрового вольтметра, команда на регистрацию результата, команда конца цикла испытании; на шинах 7 — код включения параметра; на шинах 8 — код включения режима испытаний; на ыьинах 16 в код граничного значения; на шине 18 —.команда «меньше» и ,на шинах 9 — код классификационнои группы.

Дешифраторы 10, 11, 12 преооразуют двоичныи код программы испытании в позиционный код. Ьлок 13 подключения с помощью группы коммутационных реле из набора функциональных узлов и пассивных элементов формирует треоуемый измеритель параметра и подключает к нему исследуемую интегральную схему 23 и вход цифрового вольтметра

22. Программируемый источник 14 питания устанавливает определенный режим питания интегральной схемы 23, Цифровой вольтметр

22 преобразует величину измеренного параметра в двоично-десятичный код, а цифровая схема 17 сравнения сравнивает коды результата измерения и граничного значения и выдает сигнал «меньше». В узле 20 формирования сигнала «брак по тесту» происходит анализ сигналов с выхода схемы 17 сравнения и шины

18 и в случае равнозначности этих сигналов на выходе узла 20 появляется высокий потенциал, возбуждающий горизонтальную шину программатора 3 классификации в данном тесте. Блок 15 классификации в зависимости от состояния шин 9 включает определенную

ЗО

40 лампочку индикатора 24. Устройство 6 управления принимает сигналы от внешних органов управления и шин 5 программатора 2 и выдает команды запуска регисчра сдвига 1, установки диапазона цифрового вольтметра 22 и его внешнего запуска, разрешения сравнения (вход схемы 21 совпадения) и конца цикла (вход блока 15 классификации).

Определение принадлежности исследуемой схемы к той или иной группе годности или брака и программирование групп классификации осуществляется следующим образом. Для включения в данном тесте определенной лампочки необходимы три условия: наличие диодов, определяющих код группы в программаторе 3 классификации, присутствие сигнала

«брак по тесту» и возбуждение выхода регистра сдвига 1, соответствую щего этому тесту.

Сигнал «брак по тесту» появляется при равнозначности потенциалов с выхода «меньше» цифровой схемы 17 сравнения и шины «мень,ше» 18 программатора 2 и при наличии сигнала разрешения, поступающего на вход схемы 19 совпадения от устройства 6 управле,ния. Высокий потенциал на выходе шины 18

1появляется при наличии диода, связывающего эту шину с возбужденной горизонтальной шиной программатора 2. Принцип классификации основан на том, что при сравнении,в данном тесте истинного значения параметра с траничным значением двух соседних групп, программируется включение худшей из этих групп. Таким образом, на шинах 16 последовательно в каждом тесте записывается код всех граничных значений, соответствующих классификации по данному параметру, на шинах 9 код худшей из двух соседних групп, соответствующих данной границе. Если для худшей группы значение параметра должно быть меньше граничного значения, то в этом тесте на шину «меньше» 18 запаивастся диод, в противном случае диод отсутствует.

Классификатор работает следующим образом. После нажатия кнопки «пуск» устройство

6 управления выдает импульс запуска регистра сдвига 1, возбуждается правая горизонтальная шина программатора 2. В блоке подключения формируется схема измерения первого параметра. Программируемый источник

14 питания устанавливает требуемый при измерении данного параметра режим питания интегральной схемы. Включается диапазон измерения цифрового вольтметра 22 и определенная задержка на время переходного процесса измерителя, по окончании которой устройство 6 управления запускает вольтметр.

Спустя некоторое время от устройства 6 управления на схему 21 совпадения поступает импульс разрешения формирования сигнала

«брак по тесту». К этому моменту завершаются переходные процессы в цифровом вольтметре 22 и схеме 17 сравнения, на выходе

«меньше» которой появился результат сравнения истинного значения параметра (П) с

528520

l0

40 первым граничным значением (Г1), соответствующим границе группы А и брака (Бр) .

1-ассмотрим пример реализации следующих у.словий классификации по первому параметру:

Π— Г1 — Г2 — ГЗ вЂ” со ьр А Б В причем Г2(П(13. На шине 18 присутствует высокий потенциал, на выходе схемы 1 7 сравнения низкии, сигнал «брак по тесту» отсутствует, нет команды на включение группы

«ьр». Iio заднему фронту импульса разрешения формируется следующий импульс запуска регистра сдвига 1, возоуждается вторая горизонтальная шина программатора 2, подключая к схеме li сравнения код второго граничного значения 14. 11оскольку 11)1 .2, то команда .на включение группы «Л» отсутствует.

0 третьем тесте ll(1 а на выходе схемы 17 сравнения появляется высокий потенциал и с приходом очередного импульса разрешения формируется сигнал «брак по тесту», в результате чего в блок 15 классификации поступает команда на включение группы Ь.

Снова формируется импульс запуска регистра сдвига, возоуждается четвертая шина программатора, в блок подключения, программируемый источник питания и управляющее у 1ройство поступают команды, обеспечивающие измерение второго параметра, происходит сравнение истинного значения этого параметра с первым граничным значением и анализ результата сравнения. Дальнейшая работа классификатора аналогична вышеописанному. После завершения, испытаний в последующем тесте программируется команда конца цикла, которая прекращает запуск регистра сдвига. Это позволяет повысить быстродействие классификатора при работе по сокращенной программе. Блок классификации построен таким образом, что включение худшей

35 группы отключает ранее включенную лучшую ...1 ну, что дает возможность однозначно отн.ги исследуемую интегральную схему к определенной группе классификации. Ьсли в процессе испытаний ни разу не появился сигнал

«брак по тесту», то команда конца цикла, поступающая от устройства b управления в блок 15 классификации, включает наилучше ю группу годности.

Формула изобретения

Классификатор линейных интегральных схем, содержащий устройство управления, регистр сдвига, соединенный с программатором тестовых условии, соответствующие шины которого соединены с цифровои схемой сравнения и через дешифраторы подсоединены к блоку подключения и программируемому источнику питания, блок классификации, к которому. подключены индикатор и дешифратор, .и цифровой вольтметр, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей устроиства, в него введены программатор классификации, двухвходовые схемы совпадения и узел формирования сигнала

«брак по тесту», при этом программатор классификации соединен с программатором тестовых условий через двухвходовые схемы совпадения, одни из входов которых одновременно подсоединены к выходу узла формирования сигнала «брак по тесту», а входы по следнего подключены к устройству управления, цифровой схеме сравнения и шине «меньше» программатора тестовых условий, который посредством шин команд связан с устройством управления.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. «Обмен опытом в радиопромышленности», 1973.г. № 7, стр. 49 (прототип).

528520

Составитель Г. Рассмотрова

Ретактор И, Каменская Техред Е. Подурушина Корректор Л. Денискина

3аказ 2007/2 Изд. М 1593 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Классификатор линейных интегральных схем Классификатор линейных интегральных схем Классификатор линейных интегральных схем Классификатор линейных интегральных схем 

 

Похожие патенты:

Авторы // 392504

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью
Наверх